晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
低温试验箱
专业生产商,高低温箱,恒温箱,权威的,盐雾箱,湿热试验箱,干燥箱,保存箱,试验箱 适用于：IT、通迅、电子、电线、电缆、塑胶、五金、科研、研究院等各领域行业
恒定湿热试验箱
专业生产商,高低温箱,恒温箱,权威的,盐雾箱,湿热试验箱,干燥箱,保存箱,试验箱 适用于：IT、通迅、电子、电线、电缆、塑胶、五金、科研、研究院等各领域行业
电子半导体清洁度分析系统
产品简介：电子半导体清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；
美国博勒飞数显粘度计
美国brookfield博勒飞DV-S粘度计是brookfield新研发的经济的数字显示粘度计美国原装进口粘度计，兼具品牌的所有优秀品质及性能DV-S粘度计具有精确的测量性，可靠的性能和服务质量DV-S粘度计具有18 种转速能够满足不同的测量范围
德国博锐HPE II Fff果蔬硬度计
博锐的HPE II Fff蔬果硬度测试器早是由一名在南非工作的德国农业博士为了要了解酪梨这种水果从采收，运输，储存到销售整个过程的硬度变化而找上博锐代为研发的产品。至今HPE II Fff已成为博锐仪器的标准产品，被多个农业国家地区如澳大利亚，新西
稻谷·精米检测机
1.稻谷·精米检测机是根据中华人民共和国国家标准GB1350《稻谷》、 GB/T 5495 《粮食、油料试样 稻谷出糙率检验法》，自行设计、自主研发、具有完 全知识产权的新型稻谷检测设备。广泛适用于粮食收储、科学研究、监督检验部门的实验室对稻谷物理品质的检验及对稻米试样
TC-ZPC垂直轴偏差测试仪
产品介绍：将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上，使瓶口与千分表接触，旋转360度;读取大值和小值，二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器利用三爪自定心卡盘同心度高的特点，配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架，可以满足各类玻璃瓶和塑料瓶检测。